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發(fā)布時(shí)間:2024-08-03
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簡(jiǎn)要描述:
電子芯片濕熱老化測(cè)試箱 環(huán)境溫變?cè)囼?yàn)箱廠小型高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品簡(jiǎn)介:小型高低溫試驗(yàn)箱優(yōu)化設(shè)計(jì),占地空間小,不受地域空間限制,并采用大視窗觀察窗口,試驗(yàn)產(chǎn)品狀態(tài)可視化更強(qiáng);采用抽屜式大容量水箱,試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng),并易拆卸清洗;采用 7″TFT真彩LCD觸摸屏,比其它屏更大,更直觀,操作更簡(jiǎn)單,運(yùn)行更穩(wěn)定
電子芯片濕熱老化測(cè)試箱 環(huán)境溫變?cè)囼?yàn)箱廠
低溫試驗(yàn)箱可以用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。
二,高低溫試驗(yàn)箱廠家高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)和尺寸(也可按客戶(hù)要求生產(chǎn))(單位:mm): 型號(hào) Y-HE-80G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 450×500×400 外形尺寸:650×1500×950型號(hào) Y-HE-150G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×600×500 外形尺寸:750×1600×1050型號(hào) Y-HE-225G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×750×600 外形尺寸:1000×1650×1200型號(hào) Y-HE-408G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×850×800 外形尺寸:1100×1750×1400
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